等離子的吸濕性與粘接
等離子對聚合物改性處理的明顯的結(jié)果是改善表面的吸濕性，許多未經(jīng)處理的聚合物表面能為25-50eynes/cm，接觸角95°--60°經(jīng)氧化等離子處理后，接觸角降低到40°以下，有的表面吸濕如此之好，以至于接觸角小到難以測量，在表(1)中給出一些聚合物在等離子處理前后的數(shù)據(jù)。
可以看出在所有情況下，聚合物表面吸濕性都有顯著的改善。
從表(2)可以看出等離子處理后聚合物搭接剪切強(qiáng)度有很大的改善，這也是等離子處理在聚合物上廣泛應(yīng)用的理由。應(yīng)該指出表(1)表(2)的典型數(shù)據(jù)僅有參考價值，它僅對于同一批聚合物和加工條件相同的材料才有效，對于不同批的材料即使有著相同的標(biāo)牌，由于加工工藝參數(shù)的差異和聚合物添加劑的不同，數(shù)據(jù)將有大的變化。
粘接與吸濕性之間往往有著良好的相關(guān)性，因此，通常測量處理表面的吸濕性的估計它對粘接的適用性，在許多情況下，可以說是定性的標(biāo)示，而完全依賴吸濕性來預(yù)言粘接性是不可取的，甚至存在危險的，有些情況下，吸濕與粘接的關(guān)系是反常的。即：①雖然其表面是可濕潤的，但對于得到好的粘接強(qiáng)度來說結(jié)構(gòu)低劣，表面太脆弱，例如PTFE（聚四氟乙烯）的粘接，臘或油表面的粘接，PTFE經(jīng)等離子處理后有良好的吸濕性，其粘接強(qiáng)度略有提高，但只有用鈉刻蝕處理所得到強(qiáng)度的一半，已經(jīng)了解PTFE表面結(jié)構(gòu)由于不存在交聯(lián)層而非常脆弱，處理的表層若不夠深，不能得到高強(qiáng)度粘接。
②另一種情況，雖然表面不能為水所濕潤，但卻具有很好的粘接強(qiáng)度，如圖1所示，圖上繪出對于聚合物用7種不同氣的等離子處理，將對聚笨硫(Polyphengler snlfid,Ryton?R-4)1/2時，與1/2時片重疊并用環(huán)氧粘接(Dexter-Hgsol EA9330),樣品處理時間均為5分鐘，得到粘接強(qiáng)度與水接觸角的關(guān)系，其中4%O2/96%CF4所處理的結(jié)果雖然水接觸角104°，但卻有很強(qiáng)的粘接強(qiáng)度~980psi，這個數(shù)據(jù)是真實而且重復(fù)的，初步探討其原因，由于其表面有少量的C-O或C-O-F可以與環(huán)氧結(jié)合，而表面上有許多CF2水就很難濕潤。
另外說明一點，接觸角的精確解釋要考慮實際表面與理想表面的偏離，包括硬度、光滑度和均勻性，實際表面工藝上的微觀粗糙度、疏水基團(tuán)與親水基團(tuán)相對濃度的變化。表面的非均勻性產(chǎn)生接觸角的滯后現(xiàn)象，即前進(jìn)接觸角Oa與后退接觸角O1之間的差異。
總之，吸濕性與粘接強(qiáng)度的關(guān)系要用自己重復(fù)試驗的結(jié)果才是真實可靠的。

AOI檢測設(shè)備的三個檢查位置是主要的：
（1）錫膏印刷之后。如果錫膏印刷過程滿足要求，那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點：
A.焊盤上焊錫不足。
B.焊盤上焊錫過多。
C.焊錫對焊盤的重合不良。
D.焊盤之間的焊錫橋。
在ICT上，相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷，而嚴(yán)重的情況，如根本無錫，幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。盡管如此，決定哪里放置AOI需要認(rèn)識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的，這些原因必須放在檢查計劃內(nèi)。這個位置的檢查直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括，印刷偏移和焊錫量信息，而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生。
（2）回流焊前。檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個典型地放置檢查機(jī)器的位置，因為這里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機(jī)器貼放的大多數(shù)缺陷。在這個位置產(chǎn)生的定量的過程控制信息，提供高速片機(jī)和密間距元件貼裝設(shè)備校準(zhǔn)的信息。這個信息可用來修改元件貼放或表明貼片機(jī)需要校準(zhǔn)。這個位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)。
（3）回流焊后。在SMT工藝過程的后步驟進(jìn)行檢查，這是AOI流行的選擇，因為這個位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯誤。回流焊后檢查提供高度的安全性，因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。
AOI檢測設(shè)備又名AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備現(xiàn)已成為電子制造業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測工具和過程質(zhì)量控制工具,因此,如何從眾多的AOI品牌中選擇和使用適合自已要求的AOI光學(xué)自動檢測設(shè)備,已成為廣大電子制造工作者十分關(guān)心的問題。
AOI檢測設(shè)備原理：當(dāng)自動檢測時，AOI檢測設(shè)備機(jī)器通過高清CCD攝像頭自動掃描PCBA產(chǎn)品，采集圖像，測試的檢測點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，檢查出目標(biāo)產(chǎn)品上的缺陷，并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來， 供維修人員修整和SMT工程人員改善工藝。
AOI檢測設(shè)備的大致流程是相同的，多是通過圖形識別法。即將AOI系統(tǒng)中存儲的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字化圖像與實際檢測到的圖像進(jìn)行比較，從而獲得檢測結(jié)果。
例如，檢測某個焊點時，按照一個完好的焊點建立起標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字化圖像，與實測圖像進(jìn)行比較，檢測結(jié)果是通過還是不通過，取決于標(biāo)準(zhǔn)圖像、分辨力和所用檢測程序。圖形識別中會用到各種算法，如求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求邊角等。
AOI的光線照射有白光和彩色光兩類設(shè)備，白光是用256層次的灰度，彩色是用紅光，綠光，藍(lán)光，光線照射至焊錫/元器件的表面，之后光線反射到鏡頭中，產(chǎn)生二維圖像的三維顯示，來反映焊點/元器件的高度和色差。人看到和認(rèn)識物體是通過光線反射回來的量進(jìn)行判斷，反射量多為亮，反射量少為暗。AOI與人判斷的原理相同。
AOI從鏡頭數(shù)量來說有單鏡頭和多鏡頭，這只是技術(shù)方案實現(xiàn)的一種選擇，很難說那種方式就一定好，因為單鏡頭通過多個光源的不同角度照射也能得到很好的檢測圖像。特別是針對無鉛焊接的表面比較粗糙，會產(chǎn)生形狀不同的焊點，容易形成氣泡，并且容易出現(xiàn)零件一端翹立的特點，新的AOI設(shè)備也都進(jìn)行了適應(yīng)性的硬件和算法的更新。
AOI檢測設(shè)備可放置的位置：
雖然AOI可用于生產(chǎn)線上的多個位置，各個位置可檢測特殊缺陷，但AOI檢查設(shè)備應(yīng)放到一個可以盡早識別和改正多缺陷的位置。